[发明专利]凝胶粒子测定方法及其装置在审
申请号: | 201680076311.3 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN108431582A | 公开(公告)日: | 2018-08-21 |
发明(设计)人: | 小幡徹;右近寿一郎 | 申请(专利权)人: | KBF企划株式会社 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49;G01N15/14;G01N33/579 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 吴宗颐 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 检测在凝胶粒子生成开始时间点由光照射产生的散射光,在发生该现象的溶剂中,抑制散射光衰减而早期且准确地测量。具备:装纳含有试样(S)和试剂(R)的溶液的试样池(1),连续搅拌试样池(1)内的混合溶液(W)的搅拌装置(2),对试样池(1)内的混合溶液(W)照射相干光(Bm)的光源(3),检测试样池(1)内的混合溶液(W)中散射的光中返回光源(3)侧方向的后方散射光成分的后方散射光检测装置(4),调节试样池(1)的入射部表面以使试样池(1)内混合溶液(W)中散射的光中朝向后方散射光检测装置(4)的检测光路(ST)与试样池(1)的表面反射的光(Bm0)的反射光路(DT)不同的光路调节装置(5),和基于后方散射光检测装置(4)的检测输出至少判别混合溶液(W)内的凝胶粒子(G)的生成开始时间点的计测装置(6)。 | ||
搜索关键词: | 试样池 后方散射光 混合溶液 检测装置 凝胶粒子 开始时间点 散射光 散射 光源 光路调节装置 表面反射 反射光路 计测装置 搅拌装置 装置检测 侧方向 光照射 检测光 内混合 入射部 相干光 检测 溶剂 衰减 照射 测量 输出 返回 | ||
【主权项】:
1.凝胶粒子测定方法,其特征在于,在测定通过凝胶化反应将试样中的目标物质粒子化的凝胶粒子时,使用以下装置:试样池,具有至少部分地入射光的入射部、收纳包含含有作为测定对象的目标物质的试样和使上述目标物质发生凝胶化的试剂的溶液,搅拌装置,连续搅拌上述混合溶液以抑制上述试样池内的含有上述试样和上述试剂的全部混合溶液发生凝胶化,光源,设置在上述试样池的入射部的外部、向上述试样池内的上述混合溶液照射相干光,和后方散射光检测装置,设置在上述试样池的入射部的外部且与上述光源同侧、检测上述试样池内的上述混合溶液中散射的光中返回到上述光源侧方向的后方散射光成分;所述方法包括以下工序:搅拌工序,在上述试样池内收纳上述混合溶液的状态下通过上述搅拌装置连续搅拌上述混合溶液,光分离工序,在实施上述搅拌工序时,向上述混合溶液入射来自上述光源的照射光,使在上述试样池的表面上反射的光的反射光路与朝向上述后方散射光检测装置的光的检测光路不同,通过上述后方散射光检测装置捕捉上述混合溶液中散射的光成分,和计测工序,基于经过上述光分离工序得到的上述后方散射光检测装置的检测输出,计测散射光的变动成分,判别至少包括与上述混合溶液从溶胶相向凝胶相相变的时间点相关的上述混合溶液内的凝胶粒子的生成开始时间点在内的凝胶粒子的生成状态。
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