[发明专利]光检测和测距传感器有效
| 申请号： | 201680074428.8 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108431626B | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | C·L·尼西亚斯;A·施庞特;G·A·阿干诺夫;M·C·瓦尔登;M·A·雷兹克;T·欧吉雅 | 申请（专利权）人： | 苹果公司 |
| 主分类号： | G01S7/481 | 分类号： | G01S7/481;G01S7/4865;G01S17/10;G01S17/42 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 宿小猛 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 电光学装置(18)包括激光光源(20)、光束控制装置(24)以及感测元件(44)的阵列(28)，所述激光光源(20)发射至少一束光脉冲，光束控制装置(24)跨目标场景(22)传输并扫描该至少一个光束。每个感测元件输出指示感测元件上的单个光子的入射时间的信号。光收集光学器件(27)将被传输的光束扫描到的目标场景成像到阵列上。电路(50)被耦接以仅在阵列的选定区域(70)中致动感测元件并且与扫描至少一个光束同步地扫过阵列上的选定区域。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 测距 传感器 | ||
【主权项】：
1.一种电光学装置，包括：激光光源，所述激光光源被配置为发射光脉冲的至少一个光束；光束控制装置，所述光束控制装置被配置为跨目标场景传输和扫描所述至少一个光束；感测元件阵列，每个感测元件被配置为输出指示所述感测元件上的单个光子的入射时间的信号；光收集光学器件，所述光收集光学器件被配置为将由所传输的光束扫描的所述目标场景成像到所述阵列上；以及电路，所述电路被耦接以致动仅在所述阵列的选定区域中的感测元件，并且在与所述至少一个光束的扫描同步的情况下使选定区域扫过所述阵列。
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