[发明专利]氢致裂纹测定方法及测定装置有效
| 申请号： | 201680065209.3 | 申请日： | 2016-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN108351326B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 水野大辅;石川信行;松井穰;安田恭野;藤本幸二;杉本薰昭 | 申请（专利权）人： | 杰富意钢铁株式会社 |
| 主分类号： | G01N29/22 | 分类号： | G01N29/22;G01N29/04;G01N29/265;G01N29/27 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 杨宏军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提出一种能够对HIC试验中在试验片内部产生的氢致裂纹进行实时测定的氢致裂纹测定方法、及用于该方法的测定装置。当通过设置在试验容器3内的超声波探头2对浸渍在含有硫化氢的试验液5中的试验片1内部产生的裂纹进行测定时，使超声波探头2或试验片1进行扫描，从而在将试验片1浸渍在试验液中的状态下经时地测定在试验片1内部产生的裂纹的位置、大小。 | ||
| 搜索关键词： | 裂纹 测定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.氢致裂纹测定方法，其特征在于，将试验片浸渍于试验容器内的含有硫化氢的试验液中，通过超声波探头对试验片内部产生的裂纹进行测定，在所述氢致裂纹测定方法中，将所述超声波探头设置在所述试验容器内，每隔规定时间使超声波探头和试验片相对地进行扫描，由此，在将试验片浸渍在试验液中的状态下，经时地对试验片内部产生的裂纹的位置、大小进行测定。
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