[发明专利]用于气态流体采样的装置和方法有效
| 申请号： | 201680056277.3 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN108139301B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | O·希拉克比;A·克拉克;B·A·C·格兰特 | 申请（专利权）人： | 史密斯探测－沃特福特有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/22 | 分类号： | G01N1/22;H01J49/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 王丽娜;李健 |
| 地址： | 英国赫*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种探测器入口，该探测器入口用于向用于探测关注的物质的分析装置提供样品，所述探测器入口包括：集气室，所述集气室用于允许气态流体流通过，所述集气室包括采样容积；采样入口，所述采样入口设置在所述集气室中，并且所述采样入口设置为从所述采样容积收集所述气态流体的样品并将所述样品提供到所述分析装置，其中所述流体携带有颗粒物；以及流体引导部，所述流体引导部设置为产生围绕环绕所述采样入口的所述集气室的所述气态流体的循环流，以改变由所述流体携带的颗粒物的空间分布，从而增加携带的所述颗粒物经过所述采样入口而不进入所述采样容积的相对比例。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 气态 流体 采样 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种探测器入口，该探测器入口用于向用于探测关注的物质的分析装置提供样品，所述探测器入口包括：集气室，所述集气室用于允许气态流体流通过，所述集气室包括采样容积；采样入口，所述采样入口设置在所述集气室中，并且所述采样入口设置为从所述采样容积收集所述气态流体的样品并将所述样品提供到所述分析装置，其中所述流体携带有颗粒物；以及流体引导部，所述流体引导部设置为产生围绕环绕所述采样入口的所述集气室的所述气态流体的循环流，以改变由所述流体携带的颗粒物的空间分布，从而增加携带的所述颗粒物的经过所述采样入口而不进入所述采样容积的相对比例。
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