[发明专利]对焦控制装置、对焦控制方法、记录介质、透镜装置、摄像装置有效

专利信息
申请号: 201680055923.4 申请日: 2016-09-16
公开(公告)号: CN108027496B 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 樱武仁史 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G02B7/34 分类号: G02B7/34;G02B7/28;G03B13/36;H04N5/232
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能够提高基于相位差AF方式的对焦精度的对焦控制装置、对焦控制方法、对焦控制程序、透镜装置及摄像装置。系统控制部(11)中,求出从AF区(53)的相位差检测用像素(52A)输出的信号组与从相位差检测用像素(52B)输出的信号组的第1相关值,求出从分割区(53s)中包含的相位差检测用像素(52A)输出的信号组与从相位差检测用像素(52B)输出的信号组的第2相关值,从第1相关值检测第1相位差量,从第2相关值按每个分割区(53s)检测第2相位差量,根据第1相位差量及第2相位差量,选择性地进行根据第1相位差量确定聚焦透镜的目标位置的处理与根据第2相位差量确定聚焦透镜的目标位置的处理。
搜索关键词: 对焦 控制 装置 方法 记录 介质 透镜 摄像
【主权项】:
1.一种对焦控制装置,其具备:传感器,具有形成有多个第1信号检测部及多个第2信号检测部的焦点检测区,所述多个第1信号检测部接收通过包含聚焦透镜的摄像光学系统的光瞳区域的沿一方向排列的不同部分的一对光束中的一个,并检测与受光量相应的信号,所述多个第2信号检测部接收所述一对光束中的另一个,并检测与受光量相应的信号;第1相关值生成部,求出从所述焦点检测区的所述多个第1信号检测部输出的第1信号组与从所述焦点检测区的所述多个第2信号检测部输出的第2信号组的相关值;第2相关值生成部,按每个分割区进行如下处理,即,求出从沿所述一方向分割所述焦点检测区的状态下的分割区中包含的多个所述第1信号检测部输出的第3信号组与从所述分割区中包含的多个所述第2信号检测部输出的第4信号组的相关值;第1相位差量检测部,根据通过所述第1相关值生成部求出的相关值,检测所述第1信号组与所述第2信号组的第1相位差量;第2相位差量检测部,按每个分割区,根据通过所述第2相关值生成部求出的相关值,检测所述第3信号组与所述第4信号组的第2相位差量;目标位置确定部,选择性地进行根据所述第1相位差量确定所述聚焦透镜的目标位置的第1处理与根据所述第2相位差量确定所述聚焦透镜的目标位置的第2处理;及透镜驱动控制部,向通过所述第1处理或所述第2处理确定的目标位置驱动所述聚焦透镜,所述目标位置确定部中,根据所述第1相位差量与多个所述第2相位差量中的任一个相位差量计算所述聚焦透镜的临时目标位置,判定基于所述第1相位差量的聚焦透镜的目标位置是否进入所述聚焦透镜的移动方向上的以所述临时目标位置为基准的预先确定的深度范围,基于所述第1相位差量的聚焦透镜的目标位置进入所述深度范围时,进行所述第1处理,基于所述第1相位差量的聚焦透镜的目标位置为所述深度范围外时,进行所述第2处理,所述第2处理中,根据对基于所述第2相位差量的聚焦透镜的目标位置进入所述深度范围的分割区检测出的第2相位差量,确定聚焦透镜的目标位置。
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