[发明专利]用于物理不可克隆功能的嵌入式测试电路有效
| 申请号： | 201680047612.3 | 申请日： | 2016-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN108028757B | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | R·达法利;J-L·当热;S·吉耶;F·洛扎克 | 申请（专利权）人： | 智能IC卡公司 |
| 主分类号： | H04L9/32 | 分类号： | H04L9/32;H04L9/08;G09C1/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘瑜;王英 |
| 地址： | 法国塞*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了包括物理不可克隆功能和在线测试电路或嵌入式测试电路的硅集成电路，所述在线测试电路包括与所述PUF物理相邻的一个或多个电路部分，并且所述一个或多个电路体现一个或多个测试，该一个或多个测试被执行以确定所述PUF的一个或多个质量性质或以其他方式表征所述PUF。描述了利用具体相关联的方法步骤的不同测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 物理 不可 克隆 功能 嵌入式 测试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路，其包括PUF和测试电路，其中，计算机逻辑是以下中的一个：嵌入在所述测试电路中、存储在所述测试电路上、或能够由所述测试电路访问，所述计算机逻辑被配置用于实现服务挑战，所述服务挑战生成服务响应，所述服务响应被与一个或多个服务响应进行比较以确定与预定义的模式的偏差。
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