[发明专利]用于多维高分辨率地成像样品中的结构或颗粒的路径的方法和扫描荧光显微镜有效
| 申请号： | 201680020521.0 | 申请日： | 2016-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN107636447B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | A·艾格纳;C·盖斯勒;J-R·克吕格尔 | 申请（专利权）人： | 哥廷根激光实验室 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G02B21/00;G02B21/16;G02B27/58 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 郭毅 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了多维高分辨率地成像借助荧光标记进行标记的样品结构，对于样品中的多个测量区域(18)重复以下步骤：将荧光使能光(3)聚焦到所述样品(4)中，其中，所述样品(4)中由所述荧光使能光(3)照亮的区域是相应的所述测量区域(18)。以荧光阻止光(10)加载所述测量区域(18)的部分区域(20)，其中，所述部分区域(20)排除所述测量区域(18)的中央(22)，其方式为：所述荧光阻止光(10)的强度分布具有经过所述中央(22)延伸的线状的或面状的零位(21)。在此，所述零位(21)通过所述测量区域(18)的所述中央(22)的最小延伸(23)以因子k(k≥2)小于所述测量区域(18)在相同方向上的直径(19)。在所述测量区域(18)内部没有空间分辨率的情况下，对于所述零位(21)围绕所述中央(22)的多个相继的角位置测量从所述样品的所述测量区域(18)发射的荧光，其中，对于所述零位(21)的每个角位置，以所述荧光使能光(3)加载所述测量区域(18)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 多维 高分辨率 成像 样品 中的 结构 颗粒 路径 方法 扫描 荧光显微镜 | ||
【主权项】：
一种用于多维高分辨率地成像样品(4)的借助荧光标记进行标记的结构的方法，所述方法具有对于所述样品(4)中的多个测量区域(18)重复的步骤：将荧光使能光(3)聚焦到所述样品(4)中，其中，所述样品(4)中由所述荧光使能光(3)照亮的区域是相应的测量区域(18)；以荧光阻止光(10)加载所述测量区域(18)的部分区域(20)，其中，所述部分区域(20)排除所述测量区域(18)的中央(22)，其方式为：所述荧光阻止光(10)的强度分布具有经过所述中央(22)延伸的线状的或面状的零位(21)，其中，所述零位(21)通过所述测量区域(18)的所述中央(22)的最小延伸(23)以如下因子小于所述测量区域(18)在相同方向上的直径(19)：所述因子k≥2；在所述测量区域(18)内部没有空间分辨率的情况下，测量从所述样品(4)的所述测量区域(18)发射的荧光(7)；将测量到的荧光(7)的值配属于通过所述中央(22)的位置在所述样品(4)中定义的位置；其特征在于，对于所述零位(21)围绕所述中央(22)的多个相继的角位置，测量从所述测量区域(18)发射的荧光(7)，其中，对于所述零位(21)的角位置中的每个，以所述荧光使能光(3)加载所述测量区域(18)。
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