[发明专利]用于确定MR系统的性能退化的MR指纹识别有效
| 申请号： | 201680008352.9 | 申请日： | 2016-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN107209236B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | P·博尔纳特;M·I·多内瓦;T·E·阿姆托尔;P·柯肯;J·库普 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/46 | 分类号： | G01R33/46;G01R33/54;G01R33/58 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种操作磁共振系统以采集来自测量区(108)内的体模(124)的磁共振数据(152)的方法。所述体模包括已知体积的至少一种预定物质((128)、130)。所述方法包括通过利用脉冲序列指令(150)控制所述磁共振系统来采集(300)所述磁共振数据的步骤。所述脉冲序列指令使所述磁共振系统根据磁共振指纹识别技术来采集所述磁共振数据。所述脉冲序列指令指定一串脉冲序列重复。每个脉冲序列重复具有根据重复时间的分布选取的重复时间。每个脉冲序列重复包括根据射频脉冲的分布选取的射频脉冲。射频脉冲的所述分布使磁自旋旋转到翻转角的分布。每个脉冲序列重复包括采样事件，其中，在所述脉冲序列重复的结束之前针对预定持续时间在采样时间处对所述磁共振信号进行采样。所述方法还包括通过将所述磁共振数据与磁共振指纹识别库(154)进行比较来确定(302)所述磁共振系统的一个或多个性能退化状况。所述磁共振指纹识别库包括响应于针对所述至少一种预定物质中的每一种对所述脉冲序列指令的执行的、针对一组系统状态的磁共振信号的列表。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 mr 系统 性能 退化 指纹识别 | ||
【主权项】：
一种操作磁共振系统以采集来自测量区(108)内的体模(124)的磁共振数据(152)的方法，其中，所述体模包括已知体积的至少一种预定物质(128、130)，其中，所述方法包括如下步骤：‑通过利用脉冲序列指令(150)控制所述磁共振系统来采集(300)所述磁共振数据，其中，所述脉冲序列指令使所述磁共振系统根据磁共振指纹识别技术来采集所述磁共振数据，其中，所述脉冲序列指令指定一串脉冲序列重复，其中，每个脉冲序列重复具有根据重复时间的分布选取的重复时间，其中，每个脉冲序列重复包括根据射频脉冲的分布选取的射频脉冲，其中，射频脉冲的所述分布使磁自旋旋转到翻转角的分布，并且其中，每个脉冲序列重复包括采样事件，其中，在所述脉冲序列重复的结束之前针对预定持续时间在采样时间处对所述磁共振信号进行采样，其中，所述采样时间是根据采样时间的分布选取的，其中，所述磁共振数据是在所述采样事件期间采集的；并且‑通过将所述磁共振数据与磁共振指纹识别库(154)进行比较来确定(302)所述磁共振系统的一个或多个性能退化状况、故障或失灵的发生，其中，所述磁共振指纹识别库包含响应于针对所述至少一种预定物质中的每种预定物质对所述脉冲序列指令的执行的、针对一组系统状态的磁共振信号的列表，其中，所述一组系统状态表示所述磁共振系统的不同部件的故障、失灵和/或性能退化状况。
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