[发明专利]用于FPGA的测试和配置的系统和方法

摘要

用于FPGA中的查找表(LUT)和可编程路由开关的配置值是通过布置在移位寄存器中的许多触发电路来提供。该移位寄存器可以在工厂测试模式中接收测试值和在操作模式中接收操作配置值(实现客户要求的FPGA的无论什么功能性)。在移位寄存器的一端提供比特流，并且一直计时直到最后一个触发电路接收到其值。还可以在移位寄存器的另一端对值进行计时以与初始的比特流进行比较以便识别所存储的值例如因为辐射暴露的讹误。提出时钟门架构以用于将数据加载到特定所选择的移位寄存器中或者从特定所选择的移位寄存器中读取数据。

主权项

1.一种能够实现逻辑功能的现场可编程门阵列，所述现场可编程门阵列包括多个硬件查找表，每个查找表的选择线路或者输出通过多个可编程开关可编程地与另一个所述查找表的选择线路或者输出互连，所述现场可编程门阵列的特征进一步地包括：移位寄存器配置中的多个触发电路，每个所述查找表具有耦合到各自所述触发电路的输出的至少一个输入，并且每个所述可编程开关耦合到另外的各自所述触发电路的输出；以及其中，所述现场可编程门阵列被布置为在第一模式和第二模式中操作，在所述第一模式中，所述移位寄存器被加载有预先定义的测试值，在所述第二模式中，所述移位寄存器被加载有实现所述逻辑功能的值。