[发明专利]面形状不良产生或原因区域推断方法、装置及记录介质有效

专利信息
申请号: 201680005686.0 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN107249772B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 桑山卓也;有贺高 申请(专利权)人: 新日铁住金株式会社
主分类号: B21D22/00 分类号: B21D22/00;G06F17/50
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 高迪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 该面形状不良产生区域推断方法是推断将被加工材料塑性加工而得的塑性加工品的面形状不良的产生区域的面形状不良产生区域推断方法,具备取得第一应力分布σ(T1)的第一应力分布取得工序、取得第二应力分布σ(T2)的第二应力分布取得工序、取得比较应力分布σ(T1,T2)的比较应力分布取得工序、取得分割比较应力分布σDIV(T1,T2)的分割比较应力分布取得工序、以及分别推断分割区域Dk是否是面形状不良的产生区域的面形状不良产生区域推断工序。
搜索关键词: 形状 不良 产生 区域 推断 方法 原因 装置 程序 以及 记录 介质
【主权项】:
1.一种面形状不良产生区域推断方法,推断从塑性加工开始时刻TSTART起至塑性加工结束时刻TEND为止将被加工材料塑性加工而得的塑性加工品的面形状不良的产生区域,其特征在于,该面形状不良产生区域推断方法具备:第一应力分布取得工序,通过有限元法,取得作为上述塑性加工开始时刻TSTART之后、并且是上述塑性加工结束时刻TEND之前的第一加工时刻T1的上述被加工材料的应力的分布即第一应力分布σ(T1);第二应力分布取得工序,通过有限元法,取得作为上述第一加工时刻T1之后、并且是上述塑性加工结束时刻TEND之前或者与之同时的第二加工时刻T2的上述被加工材料的应力的分布即第二应力分布σ(T2);比较应力分布取得工序,基于上述第一应力分布σ(T1)与上述第二应力分布σ(T2)的比较,取得上述被加工材料的比较应力的分布即比较应力分布σ(T1,T2);分割比较应力分布取得工序,通过将上述比较应力分布σ(T1,T2)分割成多个分割区域Dk,取得各个分割区域Dk的比较应力的分布即分割比较应力分布σDIV(T1,T2);以及面形状不良产生区域推断工序,基于使用上述分割比较应力分布σDIV(T1,T2),分别对上述分割区域Dk求出的面形状不良产生评价指标α,推断上述分割区域Dk各自是否是面形状不良的产生区域,上述面形状不良产生评价指标α是相互分离的两个元素间的比较应力的差分的最大值。
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