[发明专利]四相机组平面阵列特征点匹配方法及基于其的测量方法

摘要

四相机组平面阵列特征点匹配方法及基于四相机组平面阵列特征点匹配方法的测量方法，属于光学电子测量领域。匹配方法包括以四个像平面中的一个像平面为基像平面，对基像平面上的一个特征点找出在横向方向上与该基像平面相邻的像平面上与该特征点匹配的所有匹配点；对于基像平面上的特征点找出在纵向方向上与该基像平面相邻的像平面上与该特征点匹配的所有匹配点；将找出的横纵两个方向上所有匹配点进行再匹配，找出所有子匹配点组；找出对角位置像平面上与基像平面上的特征点以及找出的所有子匹配点组对应的匹配点；确定四个像平面中对应于同一被视点的唯一性匹配点组。对于每组唯一性匹配点组，可根据该匹配点组的像坐标和相机系统本身的参数，计算被视点的三维空间坐标。在任何光照条件下只要采集的图像足够清晰对于任何在四相机组平面阵列的图像上成像且有一定的图像特征的被视物，采用完全相同的匹配方法和测量方法均可以实现被视物的三维测量。

主权项

1.一种四相机组平面阵列特征点匹配方法，其特征在于，包括以下步骤：a1.以一组四相机组的四个相机对应的四个像平面中的任意一个像平面为基像平面，对于所述基像平面上的一个特征点找出在横向方向上与该基像平面相邻的像平面上与该特征点匹配的所有匹配点；a2.对于所述步骤a1中的所述基像平面上的所述特征点找出在纵向方向上与该基像平面相邻的像平面上与该特征点匹配的所有匹配点；a3.将所述步骤a1中找出的所有匹配点和所述步骤a2中找出的所有匹配点进行再匹配，找出对应的所有子匹配点组；a4.根据所述基像平面上的所述特征点以及所述步骤a3中找出的所有子匹配点组，找出对角位置像平面上与所述基像平面上的所述特征点以及所述步骤a3中找出的所有子匹配点组对应的匹配点，其中对角位置像平面是位于所述基像平面的对角位置的像平面；a5.根据所述基像平面上的所述特征点、所述步骤a3中找出的所有子匹配点组和所述步骤a4中找出的匹配点，确定出所述四个像平面上对应于同一被视点的唯一性匹配点组。