[发明专利]应用于数字集成电路的ESD检测装置、集成电路及方法有效
| 申请号： | 201680000576.5 | 申请日： | 2016-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN108028530B | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 王光耀 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H02H9/00 | 分类号： | H02H9/00 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种应用于数字集成电路的ESD检测装置、集成电路及方法。本申请装置，包括：校验读控制模块，配置为发起对触发器集合模块的读操作；校验运算模块，配置为接收所述触发器集合模块根据所述读操作所传输的触发器值，根据所述触发器值进行校验计算，并根据所述校验计算结果与历史校验计算结果的比较确定是否存在ESD超限。本申请采用简单的电路结构对ESD超限进行检测，无需占用外部主控制器的资源，从而不会影响其他操作，且提高效率，能够实时的发现ESD超限。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 数字集成电路 esd 检测 装置 集成电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种应用于数字集成电路的ESD检测装置，其特征在于，包括：校验读控制模块，配置为发起对触发器集合模块的读操作；其中，所述触发器集合模块包括所述数字集成电路中的所有触发器；校验运算模块，配置为接收所述触发器集合模块根据所述读操作所传输的触发器值，根据所述触发器值进行校验计算，并根据所述校验计算结果与历史校验计算结果的比较确定是否存在ESD超限；其中，所述触发器值包括所述数字集成电路中所有触发器的触发器值；还包括：多路选择器模块，配置为当其他模块存在写操作时，传输其他模块的写操作至所述触发器集合模块，否则，发送来自所述校验读控制模块的读操作至所述触发器集合模块；其中，其他模块包括任意可以对触发器集合模块执行写操作的模块。
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