[外观设计]半导体器件测试系统有效
| 申请号： | 201630149078.X | 申请日： | 2016-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN303957957S | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 刘冲;李洁;阚劲松 | 申请（专利权）人： | 刘冲 |
| 主分类号： | 10-05 | 分类号： | 10-05 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 1.本外观设计产品的名称：半导体器件测试系统。2.本外观设计产品的用途：用于二极管、双极型晶体管、MOS管，IGBT模块、可控硅等器件直流参数和动态参数的测试。3.本外观设计产品的设计要点：该产品的形状及图案结合。4.最能表明设计要点的图片或者照片：主视图。5.右视图和左视图相同，右视图省略。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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