[实用新型]触发可控硅控制单元有效

专利信息
申请号: 201621263362.0 申请日: 2016-11-24
公开(公告)号: CN206180828U 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 张贵德;谢祥伟;戴迪;成川;罗俊;郑华;刘浔;黄瑶玲;吴萍;王丽丽;韩旭鹏 申请(专利权)人: 国家电网公司;国网湖北省电力公司检修公司;北京西能达科技有限公司
主分类号: H02M1/06 分类号: H02M1/06
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司42104 代理人: 潘杰;李满
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种触发可控硅控制单元,它包括处理器、可控硅激光发射装置、可控硅激光接收装置和可控硅参数采集接口,其中,处理器的可控硅触发信号输出端连接可控硅激光发射装置的信号输入端,处理器的可控硅触发状态信号输入端连接可控硅激光接收装置的信号输出端,处理器的可控硅基本参数数据输入端连接可控硅参数采集接口的一端;本实用新型能高效控制可控硅触发,同时准确监测可控硅的基本参数数据。
搜索关键词: 触发 可控硅 控制 单元
【主权项】:
一种触发可控硅控制单元,其特征在于:它包括处理器(1)、可控硅激光发射装置(2)、可控硅激光接收装置(3)和可控硅参数采集接口(4),其中,处理器(1)的可控硅触发信号输出端连接可控硅激光发射装置(2)的信号输入端,处理器(1)的可控硅触发状态信号输入端连接可控硅激光接收装置(3)的信号输出端,处理器(1)的可控硅基本参数数据输入端连接可控硅参数采集接口(4)的一端;所述可控硅激光发射装置(2)的激光信号输出端连接可控硅控制单元(6)的可控硅激光触发信号输入端,可控硅数据采集装置(5)的可控硅基本参数数据输出端连接可控硅参数采集接口(4)的另一端;所述处理器(1)用于通过可控硅数据采集装置(5)采集可控硅正反重复峰值电压参数、可控硅回路阻抗和可控硅短路电流;所述处理器(1)还用于通过可控硅激光发射装置(2)向可控硅控制单元(6)发送可控硅激光触发信号;所述处理器(1)还用于通过可控硅激光接收装置(3)接收可控硅控制单元(6)反馈的可控硅是否触发成功的反馈信息。
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