[实用新型]一种PIN针测试设备

摘要

本实用新型公开了一种PIN针测试设备，包括分别固定在机台上的机台、控制器、进料机构、送料机构、选择机构和测试机构；控制器分别与进料机构、送料机构、选择机构和测试机构连接；进料机构接收电子元件，送料机构将电子元件从进料机构依次传送至测试机构和选择机构，控制器控制测试机构对电子元件的PIN针进行短路测试或导通测试，并确定PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；选择机构去除不合格的PIN针。本实用新型的优点和有益效果在于实现了自动对电子元件的PIN针进行短路测试和导通测试，以及自动去除具有不合格PIN针的电子元件的技术效果，提高了电子元件的测试效率，减少了人工投入，降低了企业生产及检测成本。

主权项

一种PIN针测试设备，用于测试电子元件的PIN针，其特征在于，包括机台、控制器、进料机构、送料机构、选择机构和测试机构；所述控制器、进料机构、送料机构、选择机构和测试机构分别固定在所述机台上，所述控制器分别与所述进料机构、送料机构、选择机构和测试机构连接；所述进料机构位于所述测试机构的一侧，所述选择机构位于所述测试机构背向所述进料机构的一侧，所述进料机构用于接收所述电子元件，所述送料机构用于将所述电子元件从所述进料机构依次传送至所述测试机构和所述选择机构，所述控制器控制所述测试机构对所述电子元件的PIN针进行短路测试或导通测试，并确定所述PIN针为合格PIN针或不合格PIN针；所述控制器控制所述选择机构去除经由所述测试机构测试为不合格的PIN针。