[实用新型]一种光电探测器自动化批量测试系统

摘要

本实用新型公布了一种光电探测器自动化批量测试系统，包括控制台、测试导轨、芯片载盘、精密震动盘、自动贴片机、光源、自动编带机、测试设备和预留测试设备。在控制台的控制下，精密振动盘和自动贴片机相互配合，将光电探测器按照特定的方向依次放入芯片载盘中。控制台控制测试导轨精确步进，并控制光源产生合适特性的光，进而控制测试设备完成对光电探测器光电特性的测试。控制台最后标记不合格的光电探测器，并控制自动编带机将合格的光电探测器成盘装载。本实用新型的有益之处在于，可以对大量光电探测器同时进行自动化批量测试；可以快速高效地实现多个光电探测器的电学量、光学量的测量；可以方便地实现多个测试量的快速统计分析。

主权项

一种光电探测器自动化批量测试系统，包括控制台、测试导轨、芯片载盘、精密震动盘、自动贴片机、光源、自动编带机、测试设备和预留测试设备，其特征在于：所述测试导轨上依次设置有上片位点、测试位点、预留测试位点和分拣位点，且各位点均位于测试导轨的特定位置处；所述精密振动盘用于调整待测光电探测器的正反，并将调整合适的光电探测器依次送入自动贴片机；所述自动贴片机用于在测试导轨的上片位点处，将光电探测器按照特定的方向依次放入芯片载盘中；所述芯片载盘用于承载和固定待测光电探测器，并提供与测试导轨上的测试位点相互通信连接的接口；所述芯片载盘上设置有阵列式排布的芯片槽，所述芯片槽用于放置待测光电探测器并进行固定；所述芯片载盘可被用于对多个光电探测器同时进行测量；所述测试位点用于建立待测光电探测器同测试设备之间的通信连接；所述测试设备用于对待测光电探测器的电学性能或光学性能进行测试；所述光源位于所述测试位点的正上方，用于在对待测光电探测器的光学性能进行测试时，为光电探测器提供光激励；所述预留测试位点用于建立待测光电探测器同预留测试设备之间的通信连接，方便测试系统其他功能的扩展；所述预留测试设备用于实现测试系统的其他测试功能；所述自动编带机用于在测试导轨的分拣位点处，将测试合格的光电探测器按照特定的顺序依次放入芯片卷盘中；所述控制台同时与精密振动盘、自动贴片机、测试导轨、测试设备、预留测试设备、光源及自动编带机通信连接，用于控制整个自动化批量测试系统的运行，并对测试结果进行快速地统计分析。