[实用新型]一种测试RFID读写器性能参数的装置有效
| 申请号： | 201620794345.3 | 申请日： | 2016-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN205942759U | 公开（公告）日： | 2017-02-08 |
| 发明（设计）人： | 吴雷;蒋海军;谢理;王鹏鹏 | 申请（专利权）人： | 武汉万集信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06K17/00 | 分类号： | G06K17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试RFID读写器性能参数的装置，主要由测试暗箱、标签模拟器、控制模块、人机接口组成。测试暗箱内壁上覆有吸波材料，箱体两侧分别设有固定支架。测试时，将被测读写器和标签模拟器分别固定在两侧的固定支架上。控制模块根据用户输入的命令，调整被测读写器和标签模拟器的发射参数和接收参数，并通过人机接口将测试结果显示出来。该装置通过用户输入命令来完成RFID读写器的性能参数的测试，结构简单，便于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 rfid 读写 性能参数 装置 | ||
【主权项】：
一种测试RFID读写器性能参数的装置，包括：测试暗箱、标签模拟器、控制模块、人机接口，其特征在于，所述标签模拟器，接收到被测读写器发送的射频信号后，改变其相关参数，并回复给被测读写器；所述控制模块，与被测读写器和标签模拟器连接，调整被测读写器和标签模拟器的发射参数和接收参数。
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