[实用新型]一种颗粒形态的光学检测装置有效
| 申请号： | 201620783718.7 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN205844136U | 公开（公告）日： | 2016-12-28 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;李培;周丽萍;丁志华 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01B11/24 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种颗粒形态的光学检测装置。包括一颗粒分散装置、低相干干涉测量和显微成像相结合的成像测量装置。本实用新型操作简单有效，能够用于采集获得颗粒三维空间的分布位置信息，可避免基于图像显微的粒度测量中不同深度的颗粒在两维图像中重叠效应，可用于工业生产和科学研究中对颗粒形态的高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 形态 光学 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种颗粒形态的光学检测装置，包括：一颗粒的分散装置，用于将单个颗粒分散到空间中；低相干干涉测量和显微成像相结合的成像测量装置，用于采集分散到空间中的颗粒图像。
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