[实用新型]一种伺服驱动器老化测试系统有效
| 申请号： | 201620648638.0 | 申请日： | 2016-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN205880649U | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 申请（专利权）人： | ||
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100070 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型的目的在于提供一种伺服驱动器老化测试系统，该系统包括一台上位机和多层老化架，该上位机与各层老化架中的通信转换器依次串联连接，该伺服驱动器老化测试系统在老化时能够同时打开多个串口，从而能够同时批量老化所有老化架上的伺服驱动器，也能够针对老化架上的某个伺服驱动器进行单独老化，从而提高生产效率和质量，提高测试质量，记录测试数据和故障，便于问题分析和后期品质追溯，降低老化测试过程中人工和时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 伺服 驱动器 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种伺服驱动器老化测试系统，该系统包括一台只运行一个监控软件的上位机和多层老化架，该系统的特征在于：该上位机与第一层的通信转换器直接连接，第一层的通信转换器连接有第二层的通信转换器，第二层通信转换器连接有第三层通信转换器，依次串联，直到连接到第n层。
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