[实用新型]转接板及老化测试板有效
| 申请号： | 201620541928.5 | 申请日： | 2016-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN205670184U | 公开（公告）日： | 2016-11-02 |
| 发明（设计）人： | 邵玲玲 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/02;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅;李时云 |
| 地址： | 300385 天津市西青*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种转接板，所述转接板包括板体及设置于所述板体上的信号探针、元件接口装置和电子元件组，所述信号探针通过信号跳线与所述元件接口装置连接，所述元件接口装置通过元件跳线与所述电子元件组中的部分或全部电子元件连接。本实用新型还提供一种老化测试板，所述老化测试板包括主板以及所述转接板，所述转接板与所述主板连接。本实用新型提供一种转接板及老化测试板，所述转接板的信号探针通过信号跳线来实现对系统信号的选择，并且所述元件接口装置通过元件跳线来实现对电子元件的选择，满足不同芯片之间的测试需要，使电路调整更简单，提高了老化测试板的适应性，达到不更换转接板的目的，降低更换过程中带来的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 转接 老化 测试 | ||
【主权项】：
一种转接板，其特征在于，所述转接板包括板体及设置于所述板体上的信号探针、元件接口装置和电子元件组，所述信号探针通过信号跳线与所述元件接口装置连接，所述元件接口装置通过元件跳线与所述电子元件组中的部分或全部电子元件连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司，未经中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201620541928.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种带有密封结构的局放传感器
- 下一篇：半导体功能测试装置
