[实用新型]一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪有效

专利信息
申请号: 201620494251.4 申请日: 2016-05-27
公开(公告)号: CN205785082U 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 向五峰 申请(专利权)人: 深圳市贝诺光科科技有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)44325 代理人: 朱业刚;谭果林
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪,包括:底座,设于底座上的检测平台、蜗轮蜗杆传动机构,与蜗轮蜗杆传动机构连接的第一探头,通过一Y形光纤与第一探头连接的光源设备、传感器,设于底座上的第二探头;第二探头还通过另一Y形光纤与传感器、光源设备连接,传感器用于连接外界电脑,蜗轮蜗杆传动机构带动第一探头上下移动,光源设备发出多色入射光,并经Y形光纤传送给第一探头和第二探头。本实用新型通过设置双探头,可以检测多种不同规格产品,可以很好地满足同一制造商对不同产品的厚度检测需求,既可以测量透明材料厚度,也可以测量非透明材料的厚度,还可以测量矢高,扩大了厚度检测仪的应用范围。
搜索关键词: 一种 可测量 多种 材料 厚度 检测
【主权项】:
一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪,其特征在于,包括:底座,设于所述底座上的检测平台、蜗轮蜗杆传动机构,与所述蜗轮蜗杆传动机构连接的第一探头,通过一Y形光纤与所述第一探头连接的光源设备、传感器,设于所述底座上的第二探头;所述第二探头还通过另一Y形光纤与所述传感器、光源设备连接,所述传感器用于连接外界电脑,所述蜗轮蜗杆传动机构带动所述第一探头上下移动,所述光源设备发出多色入射光,并经Y形光纤传送给第一探头和第二探头。
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