[实用新型]一种同轴度调试与检验装置有效
申请号: | 201620439294.2 | 申请日: | 2016-05-16 |
公开(公告)号: | CN205981068U | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 于海燕 | 申请(专利权)人: | 北京恩威特科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/252 | 分类号: | G01B5/252 |
代理公司: | 北京康盛知识产权代理有限公司11331 | 代理人: | 张良 |
地址: | 102627 北京市大兴区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种同轴度调试与检验装置,用于调试与检验设备间的回转轴的同轴度,包括底座,所述底座用于活动设置第一设备和第二设备,使所述第一设备的回转轴的一端和所述第二设备的回转轴的一端相对,还包括第一定位盘、第二定位盘和多根塞规,所述第一定位盘的中心孔可用于穿套在所述第一设备的回转轴的一端,所述第二定位盘的中心孔可用于穿套在所述第二设备的回转轴的一端,所述第一定位盘的边缘上设置有多个第一定位卡槽,所述第二定位盘的边缘上设置有多个第二定位卡槽,一个所述第一定位卡槽和一个所述第二定位卡槽对应,每一根所述塞规可用于嵌入相对应的每一所述第一定位卡槽和每一所述第二定位卡槽中。该装置适应范围更广。 | ||
搜索关键词: | 一种 同轴 调试 检验 装置 | ||
【主权项】:
一种同轴度调试与检验装置,用于调试与检验设备间的回转轴的同轴度,包括:底座,所述底座用于活动设置第一设备和第二设备,使所述第一设备的回转轴的一端和所述第二设备的回转轴的一端相对,其特征在于,还包括:第一定位盘、第二定位盘和多根塞规,所述第一定位盘的中心孔可用于穿套在所述第一设备的回转轴的一端,所述第二定位盘的中心孔可用于穿套在所述第二设备的回转轴的一端,所述第一定位盘的边缘上设置有多个第一定位卡槽,所述第二定位盘的边缘上设置有多个第二定位卡槽,一个所述第一定位卡槽和一个所述第二定位卡槽对应,每一根所述塞规可用于嵌入相对应的每一所述第一定位卡槽和每一所述第二定位卡槽中。
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