[实用新型]晶片频率测试装置有效
| 申请号： | 201620362589.4 | 申请日： | 2016-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN205580591U | 公开（公告）日： | 2016-09-14 |
| 发明（设计）人： | 陈仲涛;彭胜春;阳皓;杨莉;周哲;许卫群;唐平;陈映梅;刘春蓉;王洁;刘祖琴 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十六研究所 |
| 主分类号： | G01H13/00 | 分类号： | G01H13/00 |
| 代理公司： | 重庆信航知识产权代理有限公司 50218 | 代理人： | 江涛 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种晶片频率测试装置，该装置包括金属探头、金属台面、固定架和频率测试仪器，其中金属探头的顶端通过弹性组件连接固定架，底端设置有与金属台面平行的金属片；频率测试仪器用于向金属台面施加不同频率的交流电源，并在不同频率的交流电源下，对置于金属片与金属台面之间的晶片的振幅进行测量，从而形成晶片的幅频曲线，以根据幅频曲线确定晶片的谐振频率。通过本实用新型，可以降低晶片性能测试过程中对晶片的损坏，并可以提高晶片频率测试的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 频率 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种晶片频率测试装置，其特征在于，包括金属探头、金属台面、固定架和频率测试仪器，其中所述金属探头的顶端通过弹性组件连接所述固定架，底端设置有与所述金属台面平行的金属片；所述频率测试仪器用于向所述金属台面和所述金属片之间依次施加不同频率的交流电源，并在所述不同频率的交流电源下，对置于所述金属片与所述金属台面之间的晶片的振幅进行测量，从而形成所述晶片的幅频曲线，以根据所述幅频曲线确定所述晶片的谐振频率。
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