[实用新型]一体定位式荧光测试仪有效

专利信息
申请号: 201620180535.6 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN205506683U 公开(公告)日: 2016-08-24
发明(设计)人: 王治才;李军民 申请(专利权)人: 王治才
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 北京高航知识产权代理有限公司 11530 代理人: 赵永强
地址: 510663 广东省广州市高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一体定位式荧光测试仪,包括安装板、测试卡承载盘、拨卡装置、进卡装置、读卡检测装置和取卡装置,其中拨卡装置叠置于测试卡承载盘上并可在测试卡承载盘上转动,所述拨卡装置上沿圆周均匀设置有多个测试卡固定件,测试卡固定件沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周,每个测试卡固定件上包括用于放置测试卡的凹槽,凹槽的宽度与测试卡的宽度相匹配;所述进卡装置沿径向输送测试卡至所述凹槽,所述读卡检测装置可沿所述拨卡装置径向移动以检测凹槽内的测试卡的荧光强度,所述取卡装置沿径向将经检测后的测试卡从凹槽内取出。本实用新型能防止测试卡在读卡检测装置工作期间发生横向位置偏移,提高测试仪的准确度和可靠性。
搜索关键词: 一体 定位 荧光 测试仪
【主权项】:
一体定位式荧光测试仪,包括安装板、测试卡承载盘、拨卡装置、进卡装置、读卡检测装置和取卡装置,安装板固定设置,进卡装置、读卡检测装置和取卡装置安装于所述安装板上,测试卡承载盘水平固设于安装板的上方,其特征是:所述拨卡装置上沿圆周均匀设置有多个测试卡固定件,所述测试卡固定件沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周,每个测试卡固定件上包括开口向上的凹槽,所述凹槽的宽度与测试卡的宽度相匹配;所述进卡装置沿径向输送测试卡至所述凹槽,所述读卡检测装置可沿所述拨卡装置径向移动以检测所述凹槽内的测试卡的荧光强度,所述取卡装置沿径向将经过检测后的测试卡从所述凹槽内取出。
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