[实用新型]用于广泛温度范围内的按键耐久性测试装置有效

专利信息
申请号: 201620176211.5 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN205655989U 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: 钟回周;彭路星;严伟中 申请(专利权)人: 杭州奥腾电子股份有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 浙江永鼎律师事务所 33233 代理人: 陆永强;张建
地址: 310000 浙江省杭州市杭州经*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型提供了一种用于广泛温度范围内的按键耐久性测试装置。它解决了现有按键耐久性测试装置无法在高温或者低温环境下对按键进行测试、按键力大小不确定且无法进行调节、一次只能对一个按键进行测试等技术问题。包括架体,架体上设有至少一个位于变温区内且具有按压杆的按键测试执行机构,在按压杆上安装有测试砝码,按压杆一端连接有能在升降驱动器作用下带动按压杆轴向向上移动且通过自重向下移动从而实现轴向升降的升降传动结构,且升降驱动器设置于变温区外侧。本实用新型具有能够在高温或者低温环境下对按键进行测试,按键力大小确定,能对多个按键同时进行测试,运行稳定,结构简单,拆装方便等优点。
搜索关键词: 用于 广泛 温度 范围内 按键 耐久性 测试 装置
【主权项】:
一种用于广泛温度范围内的按键耐久性测试装置,包括架体(1),所述的架体(1)上设有至少一个位于变温区内且具有按压杆(21)的按键测试执行机构(2),其特征在于,在按压杆(21)上安装有测试砝码(22),所述的按压杆(21)一端连接有能在升降驱动器(4)作用下带动按压杆(21)轴向向上移动且通过自重向下移动从而实现轴向升降的升降传动结构(3),且所述的升降驱动器(4)设置于变温区外侧。
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