[实用新型]一种直线划擦实验设备有效

专利信息
申请号: 201620112124.3 申请日: 2016-02-04
公开(公告)号: CN205483979U 公开(公告)日: 2016-08-17
发明(设计)人: 王宁昌;李慧慧;姜峰;言兰 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: G01N19/06 分类号: G01N19/06
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭
地址: 362000*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型公开了一种直线划擦实验设备,包括光学平板、支撑系统、Y轴方向进给装置、试样夹具、工具头、力传感器、Z轴设定器、Z轴设定器夹具、X轴方向进给装置、声发射传感器、测力系统和声发射系统。本实用新型所公开的直线划擦实验设备可以用于单颗压头或者多颗压头的划擦试验研究,并能够准确测得试验的磨削力,试验精度高,机构简单,使用成本低。测得的结果可以用来分析材料的去除机理,摩擦学特性等。
搜索关键词: 一种 直线 实验 设备
【主权项】:
一种直线划擦实验设备,其特征在于,包括:光学平板、支撑系统、Y轴方向进给装置、试样夹具、工具头、Z轴设定器、Z轴设定器夹具、X轴方向进给装置、测力系统和声发射系统;所述测力系统包括力传感器和力数据处理部分;所述声发射系统包括声发射传感器和声音数据处理部分;所述支撑系统固定光学平板上;所述X轴方向进给装置安装于支撑系统上;所述Y轴方向进给装置固定于光学平板上;所述试样夹具固定于Y轴方向进给装置上;所述Z轴设定器夹具安装在X轴方向进给装置上;所述Z轴设定器固定在Z轴设定器夹具上;所述力传感器通过Z轴设定器夹具与Z轴设定器相连;所述工具头固定在力传感器上;所述试样夹具上用于放置被测样品,所述声发射传感器固定在被测样品上;所述测力系统的力数据采集部分采集力传感器的数据;所述声发射系统的声音数据处理部分采集声发射传感器的数据。
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