[实用新型]一种开盖式单边压合测试座有效
| 申请号： | 201620099018.6 | 申请日： | 2016-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN205539061U | 公开（公告）日： | 2016-08-31 |
| 发明（设计）人： | 周秋香 | 申请（专利权）人： | 深圳市浦洛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人： | 王永文;李想 |
| 地址： | 518103 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种开盖式单边压合测试座，包括一金属底座，在金属底座上设置有开口，开口固定有孔板以及设置于孔板上可更换的限位框，在开口的两侧转动连接有一个压块，压块通过弹性件连接于开口。本实用新型的测试座采用单边压合结构，IC受力均匀，其可有效的保护产品不变形或易碎，确保IC在测试过程中的一致性及稳定性。且本实用新型的结构现采取单边下压夹持方式及可更换限位框，实现IC受力均匀，测试稳定，满足多种型号IC均可通用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 开盖式 单边 测试 | ||
【主权项】：
一种开盖式单边压合测试座，其特征在于，包括一金属底座，在所述金属底座上设置有开口，所述开口固定有孔板以及设置于孔板上可更换的限位框，在所述开口的两侧转动连接有一个压块，所述压块通过弹性件连接于所述开口。
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