[实用新型]自动光学检测仪有效
| 申请号： | 201620048976.0 | 申请日： | 2016-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN205317691U | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 张方德;邵和兴 | 申请（专利权）人： | 浙江欧威科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 温州金瓯专利事务所(普通合伙) 33237 | 代理人： | 林益建 |
| 地址： | 325011 浙江省温州市高*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种自动光学检测仪，其包括机架，上光源，下光源，扫描组件，以及用于固定待检测陶瓷基材的固定装置，所述机架上设有一与水平面相平行的横梁和与横梁相垂直的侧壁，所述下光源和固定装置可相对滑移地设置在所述横梁上，所述上光源设置在所述横梁上，且位于所述下光源的上端，所述下光源与固定装置具有相互分离的第一状态，和固定装置置于上光源和下光源之间，覆盖住下光源的第二状态，所述扫描组件设置在所述侧壁上，并沿侧壁方向上下运动，扫描组件分别与上光源与下光源相适配，无需分别设置扫描组件，再根据印制电路板的特性，选择上光源或者下光源，来检测线路的缺陷，如此设置可以使结构简单，同时节省成本。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 光学 检测 | ||
【主权项】：
一种自动光学检测仪，其特征在于：其包括机架，上光源，下光源，与上光源和下光源分别相适配的扫描组件，以及用于固定待检测陶瓷基材的固定装置，所述机架上设有一与水平面相平行的横梁和与横梁相垂直的侧壁，所述下光源和固定装置可相对滑移地设置在所述横梁上，所述上光源设置在所述横梁上，且位于所述下光源的上端，二者构成联动配合，所述下光源与固定装置具有相互分离的第一状态，和固定装置置于上光源和下光源之间，覆盖住下光源的第二状态，所述扫描组件设置在所述侧壁上，并沿侧壁方向上下运动，以采集陶瓷基材上表面或者下表面的图像信息。
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