[发明专利]天线罩的电性能评估方法及装置有效
| 申请号： | 201611262474.9 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108268677B | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F30/17 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;卢军峰 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种天线罩的电性能评估方法及装置，该天线罩的电性能评估方法包括：获取天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量，并获取天线罩的散射参量信息；获取天线罩的剖分面元参数信息；根据天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量、以及天线罩的散射参量信息和天线罩的剖分面元参数信息，分别计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；根据天线的远场信息和天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。通过利用周期性单元叠层的散射参量信息，从而实现对具有微结构叠层的天线罩的电性能评估，并且大幅提高电性能评估中的计算精度及速率。 | ||
| 搜索关键词： | 天线罩 性能 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种天线罩的电性能评估方法，所述天线罩和设置在所述天线罩内的天线组成天线系统，其特征在于，所述电性能评估方法包括：获取天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量，并获取天线罩的散射参量信息；获取天线罩的剖分面元参数信息；根据所述天线口径面的电场、磁场的参数信息或所述天线表面的电、磁流密度矢量、以及所述天线罩的散射参量信息和所述天线罩的剖分面元参数信息，分别计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；根据所述天线的远场信息和所述天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。
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