[发明专利]线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置有效
| 申请号： | 201611258512.3 | 申请日： | 2012-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN106680752B | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 阳昭衡 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R33/58 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种线圈测试方法及磁共振成像方法，所述线圈测试方法包括：将待测线圈与线圈测试装置连接，对所述线圈测试装置的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值，所述输出端口对应的校正函数为：ax*(A1‑A0)＝(Ax‑A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示第一校正数据，A1表示第二校正数据，N表示预定值。本技术方案提供的线圈测试方法，测试结果准确、效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 线圈 测试 装置 磁共振 系统 及其 输出 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种线圈测试方法，其特征在于，包括：将待测线圈与线圈测试装置连接，对所述线圈测试装置的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值，所述输出端口对应的校正函数为：ax*(A1‑A0)＝(Ax‑A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示第一校正数据，A1表示第二校正数据，N表示预定值；所述第一校正数据表示在所述线圈测试装置的输出端口未接入负载时，对所述输出端口的信号进行采样，得到的采样数据；所述第二校正数据表示在所述线圈输出装置的输出端口接入可调负载和测量仪表，调整所述可调负载，使所述测量仪表的读数为预定值N，对所述输出端口的信号进行采样，得到的采样数据。
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