[发明专利]一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201611257854.3 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108267240B | 公开（公告）日： | 2019-10-15 |
| 发明（设计）人： | 张步法;倪亦萌;郑鸿涛;宋力昕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 姚佳雯;邹蕴 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法，该装置包括：激光器，该激光器用于在被测物表面照射强度调制的激光；光学系统，该光学系统用于辐射信号的传输，以及确定辐射信号中任两个波长不同的辐射信号；以及电子信号检测系统，该电子信号检测系统接收通过光学系统传输而来的两个波长不同的辐射信号后转换成两个电子信号，并将两个电子信号分别分离出直流信号和交流信号并进行检测和比较。根据本发明，能够改善现有技术中存在的上述困难，被测物表面温度测量不受材料辐射率的影响，且对激光及信号波长的选择没有限制。 | ||
| 搜索关键词： | 电子信号 辐射信号 光学系统 辐射温度测量 被测物表面 激光辅助 检测系统 激光器 波长 激光 测量 传输 材料辐射 交流信号 强度调制 温度测量 信号波长 直流信号 照射 转换 检测 | ||
【主权项】：
1.一种激光辅助辐射温度测量装置，包括：激光器，所述激光器用于在被测物表面照射强度调制的激光，从而在被测物的表面产生交流的辐射信号；光学系统，所述光学系统用于辐射信号的传输，以及确定所述辐射信号中任两个波长不同的辐射信号；以及电子信号检测系统，所述电子信号检测系统接收通过所述光学系统传输而来的所述两个波长不同的辐射信号后转换成相应的两个电子信号，将所述两个电子信号分别分离出直流信号和交流信号并进行检测，将所述直流信号和交流信号分别转换成数字信号输出至电脑，由所述电脑进行比较和处理，根据普朗克黑体辐射理论，测定所述被测物表面的温度。
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