[发明专利]基于EXIF焦距依赖模型的变焦镜头几何检校方法在审
| 申请号： | 201611249554.0 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108267854A | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 王政 | 申请（专利权）人： | 王政 |
| 主分类号： | G02B27/00 | 分类号： | G02B27/00;G03B13/18 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 445500 湖北省恩施土家族*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于EXIF焦距依赖模型的变焦镜头几何检校方法，该方法将EXIF焦距依赖的内参数模型与传统共线条件方程，得到扩展形式的共线条件方程，以此作为变焦镜头检校的基本模型，然后在自检校光束法平差同时求解内参数模型系数，由此得到变焦镜头检校的全局最优解。本发明方法依靠平面控制场，使用自动的EXIF焦距记录方式，自动提取影像上控制点坐标并进行半自动编码，人工干预极少，便于实现。本发明方法适用于光学变焦镜头及数码变焦镜头相机的几检校，具备广泛适用性。此外，检校后的变焦镜头数码相机已被证实，可应用于近景摄影测量三维重建。 | ||
| 搜索关键词： | 检校 变焦 焦距 镜头 共线条件方程 内参数 光学变焦镜头 近景摄影测量 控制点坐标 全局最优解 基本模型 记录方式 镜头相机 模型系数 平面控制 人工干预 三维重建 数码变焦 数码相机 自动提取 光束法 求解 自检 影像 应用 | ||
【主权项】：
1.本发明的目的是提供一种基于EXIF焦距依赖模型的变焦镜头几何检校方法，实现检校后变焦镜头数码相机在近景摄影测量中的应用，其特征在于：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王政，未经王政许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611249554.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种光纤扫描器、光纤扫描装置和光纤扫描设备
- 下一篇：一种头戴显示设备
