[发明专利]一种化学机械抛光液及其应用在审

专利信息
申请号: 201611231317.1 申请日: 2016-12-28
公开(公告)号: CN108251845A 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 张建;荆建芬;杨俊雅;宋凯;蔡鑫元;姚颖;潘依君;杜玲曦;王春梅;王雨春 申请(专利权)人: 安集微电子科技(上海)股份有限公司
主分类号: C23F3/04 分类号: C23F3/04
代理公司: 北京大成律师事务所 11352 代理人: 李佳铭;沈汶波
地址: 201201 上海市浦东新区华东路*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明一方面提供一种化学机械抛光液,其包含研磨颗粒,腐蚀抑制剂,络合剂,氧化剂以及至少一种聚丙烯酸类阴离子表面活性剂。本发明另一方面提供该抛光液在金属铜抛光中的应用。本发明实现了提高抛光液对铜与钽阻挡层的抛光选择比的功效;且本发明用于晶片的抛光可改善抛光后铜线的碟型凹陷(Dishing)和介质层侵蚀(Erosion),抛光后无铜残留物以及无腐蚀等缺陷。
搜索关键词: 抛光 化学机械抛光液 抛光液 阴离子表面活性剂 氧化剂 腐蚀抑制剂 聚丙烯酸类 抛光选择比 铜残留物 研磨颗粒 钽阻挡层 铜线 介质层 金属铜 络合剂 无腐蚀 凹陷 碟型 晶片 应用 侵蚀
【主权项】:
1.一种化学机械抛光液,包含研磨颗粒,腐蚀抑制剂,络合剂,氧化剂,和至少一种聚丙烯酸类阴离子表面活性剂。
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