[发明专利]用于测试条形码解码算法的测试装置及测试方法

摘要

本发明公开了一种用于测试条形码解码算法的测试方法。采用一种用于测试条形码解码算法的测试装置，包括：PC机，硬件电路、光源及机械平台，PC机连接硬件电路，光源倒挂在机械平台，PC机用于保存结果及条形码算法解码，光源为图像采集提供光照强度，硬件电路用于控制调整机械平台中水平平台的位置、图像采集、条形码算法解码运算及测试结果数据传输与显示；测试方法包括(1)选择测试模式，(2)调整水平平台位置，(3)图像采集，(4)解码运算。本发明较好的解决了现有技术中的问题，可用于测试验证条形码算法能力的生成活动中。

主权项

1.一种基于测试条形码解码算法的测试装置的测试方法，所述测试装置包括PC机，硬件电路、光源及机械平台；所述机械平台包括一个用于悬挂光源的金属架子及一个z轴方位、x轴及y轴偏转角度可变的水平平台；所述光源倒挂在所述金属架子顶端，用于提供所需的光照强度；所述硬件电路包括图像采集模块，机械控制模块以及系统供电模块；所述机械控制模块连接所述水平平台，用于控制水平平台的z轴方位的调整，x轴及y轴偏转角度的调整；所述图像采集模块用于采集图像，与所述机械控制模块连接；所述PC机作为上位机，与图像采集模块连接；所述机械控制模块包括MCU处理器2、与MCU处理器2连接的沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达、沿Y轴转马达、重力加速度器、NANDFLASH、LCD液晶显示屏1以及按键2；所述MCU处理器2用于控制沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达、沿Y轴转马达，控制所述水平平台的z轴方位调整，x轴及y轴偏转角度的调整；所述NANDFLASH用于存放收集到的电子图片；所述按键2用于选择测试模式；所述LCD液晶显示器1用于显示测试结果及信息；所述重力加速度器用于检测所述水平平台的z轴方位调整，x轴及y轴偏转角度的调整；所述图像采集模块还包括MCU处理器1，与MCU处理器1连接的光源强度控制模块、摄像头、SRAM、LCD液晶显示屏2、按键1、PHY电路、以及UART；所述MCU处理器1用于控制摄像头进行图像采集；所述光源强度控制模块用于控制所述光源的强度；所述摄像头位于所述水平平台的正上方，用于采集电子图片及补充光源的光照强度；所述LCD液晶显示屏2放置在由沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达及沿Y轴转马达控制的；所述水平平台上，用于显示从所述NANDFLASH调取的电子图片；所述SRAM用于内存扩展；所述UART连接与PC机与MCU处理器1处理器之间，用于PC机与MCU处理器1之间的数据传输；所述PHY电路连接与PC机与MCU处理器1之间，用于高速传输采集的图像；所述按键1可调节光源的光照强度及控制MCU处理器1处理器进行单次作；其特征在于：所述方法包括以下步骤：(1)通过按键2的输入，通过MCU处理器2选择测试模式，自动测试模式进入步骤(2)，手动测试模式进入步骤(3)；(2)自动测试模式：A.从NANDFLASH中调取任意一张电子图片显示在LCD液晶显示屏2上；B.通过机械模块自动控制水平平台进z轴方位调整，x轴及y轴偏转角度的调整，监控并检测调整状态，具体地：a.分别自动设置z轴高度阈值f0，x轴偏转角度阈值f1，y轴偏转角度阈值f2；b.MCU处理器2自动控制z轴马达升降机，使水平平台与摄像头距离高度达到z轴高度阈值f0，进入步骤c；c.MCU处理器2自动控制x轴马达，调整水平平台在X轴上的偏转角度，用重力加速器检测偏转角度为偏转角度阈值f1，进入步骤d；d.MCU处理器2自动控制Y轴马达，调整水平平台在Y轴上的偏转角度，用重力加速器检测偏转角度为偏转角度阈值f2，检测通过进入步骤C；C.MCU处理器2与MCU处理器1通信，并进行测试准备，打开光源，进行光源强度控制；D.MCU处理器1控制摄像头进行图形采集，采集的图像存放在所述SRAM中；E.对图像采集模块采集的图像进行条形码解码运算；F.解码运算的测试结果在LCD液晶显示屏1上显示，以文档形式传送到PC机；G.MCU处理器2收到本次测试完成信号，自动进行下一次测试；(3)手动测试模式：A.通过机械控制模块手动控制，对水平平台的z轴方位，x轴及y轴偏转角度进行调整，具体地：手动按所述按键2，控制沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达及沿Y轴转马达，对所述水平平台的z轴方位，x轴及y轴偏转角度进行调整；B.调取NANDFLASH中任一张电子图片显示在LCD液晶显示屏2上；C.手动按所述按键1，进行光源光照强度调整；D.手动按所述按键1，通过MCU处理器1控制摄像头进行单次采集图像或根据步骤(2)中步骤E进行单次条形码解码运算测试；E.解码运算的测试结果在LCD液晶显示屏1上显示，或以文档形式传送到PC机。