[发明专利]测距方法及测距装置有效
申请号: | 201611218550.6 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN106597462B | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 东尚清;李碧洲 | 申请(专利权)人: | 艾普柯微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
地址: | 201203 上海市自由贸易试验*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供一种测距方法及测距装置。本申请中测距方法包括:向被测物体发射第一光信号与第二光信号,接收第一反射信号与第二反射信号;第一光信号的频率小于第二光信号的频率;第一反射信号、第二反射信号分别为第一光信号、第二光信号被被测物体反射回来的信号;基于第一光信号与第一反射信号得到第一相位差,基于第二光信号与第二反射信号得到第二相位差;根据第一相位差计算得出第一距离;根据第一距离与第二光信号对应的测量量程计算得出第三相位差;第三相位差为缺失的第二光信号与第二反射信号的相位差;根据第二相位差与第三相位差的和计算得出第二距离作为对被测物体的测距结果。本申请可以在测距时兼顾测量量程与测量精度。 | ||
搜索关键词: | 测距 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测距方法,其特征在于,包括:向被测物体发射第一光信号与第二光信号,接收第一反射信号与第二反射信号;其中,所述第一光信号的频率小于所述第二光信号的频率;所述第一反射信号为所述第一光信号被所述被测物体反射回来的信号,所述第二反射信号为所述第二光信号被所述被测物体反射回来的信号;所述第一光信号的发射时间与所述第二光信号的发射时间相同;基于所述第一光信号与所述第一反射信号,得到第一相位差,基于所述第二光信号与所述第二反射信号,得到第二相位差;根据所述第一相位差计算得出第一距离;根据所述第一距离与所述第二光信号对应的测量量程计算得出第三相位差;所述第三相位差为由于所述第二光信号的周期性而缺失的所述第二光信号与所述第二反射信号的相位差;根据所述第二相位差与所述第三相位差的和计算得出第二距离,作为对所述被测物体的测距结果;所述测距方法应用于测距装置,所述测距装置包括接收元件,所述接收元件包括感光元件面阵列,其中,所述感光元件面阵列中每个感光元件包括第一感光子元件与第二感光子元件;所述第一感光子元件,用于接收所述第一反射信号;所述第二感光子元件,用于接收所述第二反射信号;所述感光元件面阵列中用于接收所述第一反射信号的感光元件与用于接收所述第二反射信号的感光元件在同一时间间隔内交替排列;在第一时间间隔内用于接收所述第一反射信号的感光元件在第二时间间隔内用于接收所述第二反射信号;在所述第一时间间隔内用于接收所述第二反射信号的感光元件在所述第二时间间隔内用于接收所述第一反射信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾普柯微电子(上海)有限公司,未经艾普柯微电子(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611218550.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。