[发明专利]一种用于核电站BOSS焊缝的相控阵超声检测方法在审
申请号: | 201611171171.6 | 申请日: | 2016-12-17 |
公开(公告)号: | CN106841392A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 张东辉;林莉;房云龙;金士杰;杨会敏;张树潇;罗忠兵;刘丽丽;张晓峰;廖静瑜;雷明凯 | 申请(专利权)人: | 中国核工业二三建设有限公司;大连理工大学 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/265 |
代理公司: | 大连星海专利事务所21208 | 代理人: | 花向阳 |
地址: | 101300 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种用于核电站BOSS焊缝的相控阵超声检测方法,属于无损检测领域。该方法采用一套包括相控阵超声检测仪、集成分析软件的计算机、小脚印相控阵超声探头及楔块、扫查装置的超声检测系统进行检测。针对不同规格BOSS焊缝,选择合适的小脚印探头并进行全晶片激发,设置半声程聚焦,偏转角度为负35度‑正35度,利用上述参数对焊缝进行轴向S扫查和周向B扫查,存储A扫查信号及S扫查、B扫查图像,在此基础上对缺陷长度和深度进行定量。利用本发明提出的相控阵超声检测方法,能够实现对BOSS焊缝全覆盖无损检测,克服射线检测底片黑度难以满足检测要求,渗透检测不能检测焊缝内部缺陷等问题,并可推广应用至其他类似复杂结构焊缝的无损检测,具有重要的工程应用价值。 | ||
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【主权项】:
一种用于核电站BOSS焊缝的相控阵超声检测方法,其特征是:针对不同规格BOSS焊缝,选择合适的小脚印相控阵探头,探头全晶片激发,设置聚焦方式为半声程聚焦,偏转角度为负35度‑正35度,利用上述参数对焊缝区域进行检测,存储A扫查信号、S扫查和B扫查图像,并读取和记录缺陷长度和深度信息,所述方法的步骤如下:(1)清除焊缝表面焊渣等杂物,满足检测中表面粗糙度要求;在BOSS焊缝表面做出清晰的标识,包括焊接位置标识线及扫查位置参考点;并选择合适的耦合剂;(2)根据BOSS焊缝支管和主管尺寸选择合适的小脚印相控阵探头,探头为全晶片激发,设置半声程聚焦、偏转角度为负35度‑正35度,调整时间窗口范围、设置检测灵敏度、脉冲重复频率和扫查增量等检测参数;(3)根据步骤(b)中确定的参数进行扫查,通过相控阵超声检测系统采集检测信号和图像,并存储于计算机之中;(4)在计算机分析软件中调出A扫查信号、S图像和B扫查图像,在扫查图像中识别缺陷影像,并对缺陷进行定位,记录缺陷位置信息;(5)在B扫查图像中利用‑6dB方法对检出缺陷进行长度定量,并记录缺陷长度信息。
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