[发明专利]一种测试系统在审
| 申请号： | 201611154429.1 | 申请日： | 2016-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN106841975A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 孙磊;李银双;董胜龙;齐学静;刘蒙蒙 | 申请（专利权）人： | 新智数字科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 065000 河北省廊坊市经济*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种测试系统，用于解决现有技术中对电子卡的测试效果较差的技术问题。该系统包括测试设备及与所述测试设备连接的电子卡；其中测试机设备用于根据当前的测试需求，生成测试指令，其中所述测试指令中包含待测试的参数信息，将所述测试指令发送给所述电子卡，根据接收到的电子卡返回的数据，判断所述电子卡针对所述测试需求是否测试通过；电子卡用于接收所述测试设备发送的测试指令，并向所述测试设备返回数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种测试系统，其特征在于，包括：测试设备及与所述测试设备连接的电子卡；其中，所述测试设备，用于根据当前的测试需求，生成测试指令，其中所述测试指令中包含待测试的参数信息，将所述测试指令发送给所述电子卡，根据接收到的电子卡返回的数据，判断所述电子卡针对所述测试需求是否测试通过；所述电子卡，用于接收所述测试设备发送的测试指令，并向所述测试设备返回数据。
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