[发明专利]一种精确测试IC基准电压的测试系统及测试方法

摘要

本发明涉及一种精确测试IC基准电压的测试系统及测试方法，测试系统包括IC器件、结构对称的信号处理电路和V/I测试源，信号处理电路的信号输入端与IC器件的基准电压测试端子相连，信号处理电路的信号输出端与V/I测试源相连；其测试方法为信号处理电路分别将输入电压Vin和稳压管电压Vz缓冲放大后进行比较，并将比较后的信号通过减法放大后输出电压Vout给V/I测试源。本发明可消除测试设备地线及空间噪声的共模干扰，降低测试系统因测试误差造成的影响，获得更高精度的测试结果。

主权项

一种精确测试IC基准电压的测试系统，其特征在于：包括IC器件、信号处理电路和V/I测试源，信号处理电路的信号输入端与IC器件的基准电压测试端子相连，信号处理电路的信号输出端与V/I测试源相连；所述信号处理电路包括低噪声放大器A1、A2和A3以及电阻R1至R7，放大器A1的反相输入端与IC基准电压测试端子相连，放大器A1的输出端分别与电阻R1和R4相连，电阻R1的另一端分别连接放大器A1的同相输入端和可调电阻R2；放大器A2的同相输入端与稳压管的阴极相连，稳压管的阳极接地，放大器A2的输出端分别与电阻R3和电阻R6相连，可调电阻R2的另外一端分别连接电阻R3和放大器A2的反相输入端；放大器A3的反相输入端分别与电阻R5和电阻R4的另外一端相连，放大器A3的同相输入端分别与电阻R7和电阻R6的另外一端相连，电阻R7的另外一端接地，电阻R5的另外一端与放大器A3的输出端相连；放大器A3的输出端与V/I测试源相连。