[发明专利]一种FPGA测试平台及方法有效
| 申请号： | 201611147369.0 | 申请日： | 2016-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN106841974B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 马庆;李宁 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 江婷 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种FPGA测试平台及方法，通过实例获取模块获取测试实例，测试实例包括测试矢量、测试激励以及约束条件；仿真控制模块调用仿真模块，并将测试实例的测试矢量和测试激励输入仿真模块进行仿真；仿真模块根据测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果；位流控制模块调用位流生成模块，并将测试矢量和约束条件输入位流生成模块；位流生成模块根据测试矢量和约束条件生成位流并输入待测FPGA芯片；比较模块获取待测FPGA芯片根据位流和测试激励输出的运行结果，并将运行结果和仿真结果进行比较得到测试结果。从而有利于实现自动化测试FPGA的目的，提升了FPGA的测试效率，也降低了FPGA的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 测试 平台 方法 | ||
【主权项】：
1.一种FPGA测试平台，其特征在于，包括：实例获取模块：用于获取测试实例，所述测试实例包括测试矢量、测试激励以及约束条件；仿真控制模块，用于调用仿真模块，将所述测试实例的测试矢量和测试激励输入所述仿真模块进行仿真；仿真模块，用于根据所述测试矢量和测试激励进行仿真处理得到仿真结果；位流控制模块，用于调用位流生成模块，将所述测试矢量和所述约束条件输入所述位流生成模块；位流生成模块，用于根据所述测试矢量和所述约束条件生成位流并输入待测FPGA芯片；比较模块，用于获取所述待测FPGA芯片根据所述位流和所述测试激励输出的运行结果，并将所述运行结果与所述仿真结果进行比较得到测试结果。
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