[发明专利]快速诊断测试用批次校准系统及方法有效
| 申请号： | 201611065486.2 | 申请日： | 2016-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN106501510A | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 刘志锋;钱律;谢新奇 | 申请（专利权）人： | 贝知（上海）信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/558 | 分类号： | G01N33/558;G01N35/00;G08C17/02 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所31219 | 代理人： | 许亦琳 |
| 地址： | 201318 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种快速诊断测试用批次校准系统及方法。本发明的快速诊断测试用批次校准系统包括试纸条批次信息获取模块、批次校准信息获取模块、测试数据收集模块、及测试数据校准模块。利用本发明的快速诊断测试用批次校准系统可在实际用户使用时对不同批次的测试棒进行校准，以提高测试结果准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 快速 诊断 测试 批次 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种诊断测试用批次校准系统，其特征在于，包括：试纸条批次信息获取模块(100)，用于获取试纸条批次信息；批次校准信息获取模块(200)，用于获取或存储批次校准信息M样；测试数据收集模块(300)，用于收集实际测试值M测；测试数据校准模块(400)，用于将实际测试数据根据批次校准信息进行校准计算获得校准值M判定。
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