[发明专利]一种TFT阵列基板单面蚀刻方法有效
申请号: | 201611063306.7 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN106746697B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 王徐亮;李伟丽 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | C03C15/00 | 分类号: | C03C15/00 |
代理公司: | 北京布瑞知识产权代理有限公司 11505 | 代理人: | 孟潭 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种TFT阵列基板单面蚀刻方法,解决了现有TFT阵列基板单面蚀刻过程中存在通过渗透作用接触到TFT结构单元的酸液,进而造成TFT阵列单元损伤的问题。该方法包括:蚀刻前,在TFT阵列基板上需要保护的表面贴附耐酸膜;在耐酸膜和需要保护的表面之间形成气体隔离带。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 耐酸 气体隔离带 表面贴附 渗透作用 酸液 损伤 | ||
【主权项】:
1.一种TFT阵列基板单面蚀刻方法,其特征在于,包括:蚀刻前,在TFT阵列基板上需要保护的表面贴耐酸膜,在耐酸膜和需要保护的表面之间形成气体隔离带;气体隔离带中的气体压强大于标准大气压;利用充气的方式在耐酸膜的中间部位形成气体隔离带,以将所述气体隔离带作为检测耐酸膜是否存在破损的标尺。
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