[发明专利]一种待测终端性能的测试系统,方法及装置在审
申请号: | 201611058859.3 | 申请日: | 2016-11-24 |
公开(公告)号: | CN106681907A | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 赵永辉;杨昊;刘清蝉;李仕林;张建伟;李翔;杨明 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 650217 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明供了一种待测终端性能的测试系统,方法及装置,所述系统包括:上位机、标准源、温湿度控制器、微控单元、无线电发生器、磁场发生器和待测终端;所述上位机与所述标准源连接,所述标准源与待测终端连接;所述上位机与所述温湿度控制器连接;所述上位机与所述无线电发生器连接;所述上位机与所述磁场发生器连接;所述上位机与微控单元连接,所述微控单元与所述终端连接;所述系统引进先进的软件工程化理论和黑盒测试技术,研究待测终端软件边界及极限测试,建立待测终端软件测试用例库;研究待测终端在特殊故障环境和异常类故障环境质量可靠性问题;进而发现待测终端软件内在的隐性缺陷。 | ||
搜索关键词: | 一种 终端 性能 测试 系统 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种待测终端性能的测试系统,其特征在于,所述系统包括:上位机、标准源、温湿度控制器、微控单元、无线电发生器、磁场发生器和待测终端;所述上位机与所述标准源连接,所述标准源与所述待测终端连接;所述上位机与所述温湿度控制器连接;所述上位机与所述无线电发生器连接;所述上位机与所述磁场发生器连接;所述上位机与所述微控单元连接,所述微控单元与所述待测终端连接;所述待测终端用于将检测结果上传至所述微控单元,所述上位机用于将所述待测终端的规约上传至所述微控单元;所述微控单元用于对所述待测终端进行黑盒测试;所述微控单元用于获取待测终端的测试结果,根据所述测试的结果综合评价所述待测终端的性能;用于根据所述对边界及极限测试的结果,分析所述待测终端性能的影响因素;根据所述影响因素建立故障模型;存贮所述故障模型,将所述故障模型对应的硬件检测功能项和软件检测功能项上传至所述上位机。
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