[发明专利]一种离子导体层修饰的锰基氧化物正极材料及制备和应用有效
申请号: | 201611057483.4 | 申请日: | 2016-11-26 |
公开(公告)号: | CN108123105B | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 陈剑;杨时峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | H01M4/36 | 分类号: | H01M4/36;H01M4/505;H01M4/62;H01M10/0525;H01G11/46;H01G11/86 |
代理公司: | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人: | 郑虹 |
地址: | 116023 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: |
本发明为一种离子导体层修饰的锰基氧化物正极材料及制备和应用,所述正极材料为具有一层离子导体材料包覆在体相材料表面的复合氧化物,表达式为(1‑w |
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搜索关键词: | 一种 离子 导体 修饰 氧化物 正极 材料 制备 应用 | ||
【主权项】:
一种离子导体层修饰的锰基氧化物正极材料,其特征在于:所述正极材料为具有一层离子导体包覆在体相材料表面的复合氧化物,表达式为(1‑w1‑w2)Li‑Mn‑O·w1Li4SiO4·w2Li5AlO4,所述体相材料Li‑Mn‑O可为具有尖晶石结构的Li1+xNiyMzMn2‑y‑zO4‑△材料,或为具有层状结构的aLi2MnO3·(1‑a)LiM’sR1‑sO2材料,或为两类材料组成的复合材料,其中,0.1≤x≤0.2,0≤y≤0.6,0≤z≤1.25,0≤y+z≤1.25,0≤△≤0.05;0<a<1,0.8≤s≤1;M为Co、Cr、Zr、Cu、Fe、Zn中的一种或两种以上;M’为Ni、Mn、Co中的一种或两种以上;R为Cr、Zr、Cu、Fe、Zn中的一种或两种以上;所述正极材料的离子导体层,化学组成为w1Li4SiO4·w2Li5AlO4,厚度为1~20nm,w1和w2分别为Li4SiO4和Li5AlO4在该正极材料中所占的质量分数,0≦w1≦0.10,0<w2≦0.10,且优选0.03≦w1+w2≦0.12。
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