[发明专利]自校准投影仪器和过程在审
| 申请号： | 201611035800.2 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN106561052A | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | G·杰曼;S·J·科拉维托;R·皮尔斯;G·吕布林格 | 申请（专利权）人： | 手持产品公司 |
| 主分类号： | H04N9/31 | 分类号： | H04N9/31;G06T7/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 申屠伟进,张涛 |
| 地址： | 美国南卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及自校准投影仪器和过程。提供一种自校准投影仪器。所述投影仪器包括具有存储器的投影器；图像扫描器；校准图像；以及用于分析所投影图像的质量特征并用于改变投影器设置的控制器。所述控制器通信地链接到所述图像扫描器和所述投影器。所述校准图像具有预定最优质量特征，所述校准图像驻留在投影器存储器中。所述投影器配置成在被启动时将所述校准图像投影在表面上。所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所获取图像传递到所述控制器。所述控制器配置成与所述预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征。所述控制器进一步配置成改变投影器设置，使得所述校准图像将以预定最优质量特征来投影。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 投影 仪器 过程 | ||
【主权项】：
一种自校准投影仪器，包括：具有存储器的投影器；图像扫描器；校准图像，所述校准图像具有预定最优质量特征，所述校准图像驻留在所述投影器存储器中；以及用于分析所投影图像的质量特征并用于改变投影器设置的控制器，所述控制器通信地链接到所述图像扫描器和所述投影器；所述投影器配置成在被启动时将所述校准图像投影在表面上；所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所获取图像传递到所述控制器；所述控制器配置成与所述预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征；以及所述控制器配置成基于所述控制器分析所述质量特征改变投影器设置来调节所述校准图像以满足最优质量特征。
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