[发明专利]点源激励下导体平板与非平行介质面强散射点预估方法

摘要

本发明涉及一种点源激励下导体平板与非平行介质面强散射点预估方法，包含：S1、采用单一镜像法获取无限大的导体平板的格林函数；S2、采用离散复镜像法获取半空间介质面的格林函数；S3、对尺寸有限的导体平板进行边缘绕射修正，获取有限尺寸导体平板的格林函数；S4、基于半空间介质面的格林函数，以及有限尺寸导体平板的格林函数，进行二维成像，获取点源激励下导体平板与非平行介质面之间强散射点的位置信息。本发明中通过边缘绕射修正了有限尺寸导体平板的格林函数，有效提高强散射点位置预估的精度；并且计算量小，满足工程应用的需求。

主权项

1.一种点源激励下导体平板与非平行介质面强散射点预估方法，其特征在于，包含以下步骤：S1、获取无限大的导体平板的格林函数；S2、采用离散复镜像法获取半空间介质面的格林函数；S3、对尺寸有限的导体平板进行边缘绕射修正，获取有限尺寸导体平板的格林函数；S4、基于S2和S3，进行强散射点的位置预估；所述的S2中，离散复镜像法是将谱域格林函数分为准静态、表面波、复镜像三个部分进行计算，具体包含以下步骤：S21、准静态项的求取：谱域格林函数为：其中，kzs表示源点所在层的z方向的波数；F(kρ)表示格林函数分量为kρ的傅里叶分量；准静态的贡献为：其中，当kρ→∞时，F0(kρ)的值趋向于常数K0，其即为准静态的贡献；使用索末菲尔德积分恒等式，得到空间域的准静态贡献为：其中，ρ为场点柱坐标的ρ分量；ks为源点的波数；S22、表面波项的求取：提取准静态贡献后的谱域格林函数为：提取上式中表面波极点的留数，并根据各个极点的留数得到表面波的贡献为：其中，kpi表示kρ平面上的极点位置；Resi表示极点的留数；使用索末菲尔德积分恒等式，得到空间域的表面波贡献为：其中，为零阶第二类汉克尔函数；S23、复镜像项的求取：提取准静态贡献和表面波贡献后的格林函数为：其中，F3(kρ)为提取准静态项和表面波后的格林函数分量为kρ的傅里叶分量；使用索末菲尔德积分恒等式，得到空间域的复镜像贡献为：其中，ai为留数，bi为极点。