[发明专利]圆柱型钛合金样品α污染层平均厚度表征方法在审
| 申请号： | 201611007472.5 | 申请日： | 2016-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN106353321A | 公开（公告）日： | 2017-01-25 |
| 发明（设计）人： | 陈容 | 申请（专利权）人： | 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N1/28;G01B11/06 |
| 代理公司： | 成都希盛知识产权代理有限公司51226 | 代理人： | 张徭尧,柯海军 |
| 地址： | 617000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及圆柱型钛合金样品α污染层平均厚度表征方法，属于金相组织检测技术领域。本发明解决的技术问题是提供一种测定圆柱型钛合金样品α污染层平均厚度表征方法。该方法利用α污染层与基体断口形貌不同的特点，采用断口法直接测定α污染层面积含量，无需进行金相样品的磨制及染色，然后圆面积计算公式与α污染层层面积含量关系间接计算出平均厚度。本发明能方便全面的表征污染层平均厚度，与其他技术相比，其更加直观、快捷、方便、高效、准确，可以实现精确地表征污染层平均厚度的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 圆柱 钛合金 样品 污染 平均 厚度 表征 方法 | ||
【主权项】：
圆柱型钛合金样品α污染层平均厚度表征方法，其特征在于，其步骤如下：a、获得包含α污染层的圆柱型钛合金人工断口；b、在体式显微镜下观察断口,调节亮度和对比度使α污染层呈亮白色,基体呈灰白色；c、在体式显微镜下拍摄包含整个断口形貌的彩色照片；d、分析彩色照片，测定其中α污染层百分含量；e、通过测定的α污染层含量与圆面积公式，间接计算α污染层平均厚度。
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