[发明专利]星载滑动聚束SAR瞄准精度在轨测试方法有效

专利信息
申请号: 201610986828.8 申请日: 2016-11-09
公开(公告)号: CN106556822B 公开(公告)日: 2018-10-30
发明(设计)人: 姜岩;薛伶玲;刘佩东;王意军 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S13/90
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种星载滑动聚束SAR瞄准精度在轨测试方法,包括以下步骤:选择地面控制点,绝对位置坐标为PTarget0;根据卫星当前轨道位置PSatellite0进行控制点的过顶时刻轨道位置PSatellite1(WGS84坐标系)预报;进行SAR成像相关参数计算,根据成像参数计算控制点在成像带内的相对位置坐标PRelative0;卫星过顶并对已知控制点地区进行照射和数据下传,地面应用系统接收数据并进行高精度多普勒中心计算和成像处理;地面应用系统根据导航数据和星历参数对图像进行几何定位,按成像带宽设计值截取图像;在图像上识别已知控制点,计算其在场景中的相对位置坐标PRelative1。本发明可有效解决星载滑动聚束SAR瞄准精度的在轨测试和评估问题,有效保障用户对于所需目标的SAR图像获取的精度。
搜索关键词: 滑动 sar 瞄准 精度 测试 方法
【主权项】:
1.一种星载滑动聚束SAR瞄准精度在轨测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:选择地面控制点,地面控制点的绝对位置坐标为PTarget0,在所述地面控制点放置定标器;步骤S2:根据卫星当前轨道位置PSatellite0进行地面控制点对应的过顶时刻轨道位置PSatellite1和过顶时刻TTarget0预报;步骤S3:基于过顶时刻轨道位置PSatellite1进行合成孔径雷达SAR的成像参数计算,根据成像参数计算地面控制点在成像带宽内的相对位置坐标PRelative0;步骤S4:在卫星的过顶时刻TTarget0对地面控制点照射和导航数据、星历参数下传,地面应用系统接收导航数据和星历参数并进行高精度多普勒中心计算和成像处理;步骤S5:地面应用系统根据卫星的导航数据和星历参数对成像处理生成图像进行几何定位,按成像带宽设计值截取图像;步骤S6:在图像上识别地面控制点,计算地面控制点在图像中的相对位置坐标PRelative0;步骤S7:将相对位置坐标PRelative1与相对位置坐标PRelative0作差,即为测试样本的一个瞄准误差;多次测量并统计瞄准误差的均值和标准差为瞄准精度测试值。
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