[发明专利]光学扫描装置有效
| 申请号： | 201610973853.2 | 申请日： | 2016-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN106680993B | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 黑川周一 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G02B26/12 | 分类号： | G02B26/12 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 欧阳帆 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及光学扫描装置。提供了一种光学扫描装置，包括：偏转器，使用第一偏转表面和第二偏转表面偏转光束以在主扫描方向上扫描第一扫描表面和第二扫描表面；第一成像光学系统和第二成像光学系统，将经偏转的光束引导至第一扫描表面和第二扫描表面；以及入射光学系统，允许光束在副扫描部分中斜向地进入第一偏转表面，其中，第一成像光学系统包括第一光学元件，第一光学元件在包括光轴的副扫描部分中具有比出射表面的曲率半径的绝对值小的入射表面的曲率半径的绝对值，并且第一光学元件的入射表面在包括光轴的副扫描部分中朝着与包括偏转器的主扫描部分分离的方向反射进入入射表面的光束。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 扫描 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学扫描装置，其特征在于，该光学扫描装置包括：偏转器，被配置为使用第一偏转表面和第二偏转表面偏转光束以在主扫描方向上扫描第一扫描表面和第二扫描表面；第一成像光学系统和第二成像光学系统，被配置为将由第一偏转表面和第二偏转表面偏转的光束引导至第一扫描表面和第二扫描表面；以及入射光学系统，被配置为允许光束在副扫描部分中斜向地进入第一偏转表面，其中，第一成像光学系统包括第一光学元件，第一光学元件在包括光轴的副扫描部分中具有比出射表面的曲率半径的绝对值小的入射表面的曲率半径的绝对值，以及其中，第一光学元件的入射表面被配置为在包括光轴的副扫描部分中朝着与包括偏转器的主扫描部分分离的方向反射进入入射表面的光束。
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