[发明专利]用于监视光学传感器的光源的器件在审
申请号: | 201610939863.4 | 申请日: | 2016-09-28 |
公开(公告)号: | CN107064119A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | 本杰明·贝尔奇;蒂洛·克拉齐穆尔;拉尔夫·伯恩哈特 | 申请(专利权)人: | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
主分类号: | G01N21/78 | 分类号: | G01N21/78;G01N21/82;G01N21/31 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 戚传江,金洁 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于监视光学传感器的光源的器件,该光学传感器被设计用于确定在介质中的过程自动化技术中的被测量参数的被测量值,包括用于发送透射光的至少一个光源,其中光源与用于接收接收光的接收器相关联,其中光路从光源穿过可填充有介质的测量腔室延伸到接收器,其中透射光,借助于相互作用能够取决于被测量参数,沿着光路被转换成接收光,其中接收器信号能够由被转换的接收光产生,并且其中被测量值能够由接收器信号确定;以及与光源相关联的至少一个监视单元,具有用于监视光源的敏感元件,其中监视单元接收透射光。该器件的特征在于监视单元的敏感元件指向光路的方向并且接收来自与光路相反的方向的光。还涉及在分析器中使用这样的器件。 | ||
搜索关键词: | 用于 监视 光学 传感器 光源 器件 | ||
【主权项】:
用于监视光学传感器(3)的光源(1)的器件(20),所述光学传感器(3)被设计用于在介质(15)中确定过程自动化技术中的被测量参数的被测量值,包括:‑用于发送透射光的至少一个光源(1),其中所述光源(1)与用于接收接收光的接收器(2)相关联,其中光路(4)从所述光源(1)穿过可填充有介质(15)的测量腔室(5)延伸到所述接收器(2),其中所述透射光,借助于相互作用一具体地,吸收、散射、以及荧光一能够取决于所述被测量参数,沿着所述光路(4)被转换成所述接收光,其中接收器信号能够由被转换的所述接收光产生,并且其中所述被测量值能够由所述接收器信号确定;以及‑与所述光源(1)相关联的至少一个监视单元(6),具有用于监视所述光源(1)的敏感元件(8),其中所述监视单元(6)接收所述透射光,其特征在于:所述监视单元(6)的所述敏感元件(8)指向所述光路(4)的方向并且接收来自与所述光路(4)相反的方向的光。
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