[发明专利]老化测试板在审
| 申请号： | 201610924516.4 | 申请日： | 2016-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN106383304A | 公开（公告）日： | 2017-02-08 |
| 发明（设计）人： | 李莹;周柯;陈雷刚 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种老化测试板，包括布置在老化测试板主板上的多个芯片插座、布置在老化测试板主板上的升压电路模块以及布置在老化测试板主板上的老化测试板接口；其中，各个芯片插座直接或经由其它芯片插座通过老化测试板主板上的布线连接至升压电路模块，而且升压电路模块通过老化测试板主板上的信号线连接至老化测试板接口。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 | ||
【主权项】：
一种老化测试板，其特征在于包括：布置在老化测试板主板上的多个芯片插座、布置在老化测试板主板上的升压电路模块以及布置在老化测试板主板上的老化测试板接口；其中，各个芯片插座直接或经由其它芯片插座通过老化测试板主板上的布线连接至升压电路模块，而且升压电路模块通过老化测试板主板上的信号线连接至老化测试板接口。
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